Máy đo kích thước hạt bằng tia laser Litesizer DIF 500 cung cấp khả năng định cỡ hạt tiên tiến từ 10 nm đến 3,5 mm, dựa trên gần 60 năm kinh nghiệm về nhiễu xạ laser. Máy phân tích kích thước hạt nhiễu xạ laser này tự hào có thiết lập quang học tốt nhất trong phân khúc với các tia laser 10 mW và 25 mW mạnh mẽ và phạm vi góc nhiễu xạ phát hiện rộng nhất trên thị trường từ 0,01°-170°.Phần mềm Kalliope đơn giản hóa việc định cỡ hạt, không yêu cầu đào tạo chuyên sâu – các phép đo bắt đầu chỉ bằng ba lần nhấp. Hệ thống Quick-Click cho phép dễ dàng chuyển đổi giữa các đơn vị phân tán, giảm thiểu lỗi. Các tính năng an toàn cho cả phân tán dạng lỏng và dạng khô đảm bảo hoạt động dễ dàng, an toàn.Vỏ kim loại chắc chắn và bàn quang học biệt lập đảm bảo độ tin cậy ở mọi nơi: từ môi trường khắc nghiệt đến các phòng thí nghiệm công nghệ cao.Được thúc đẩy bởi di sản tiên phong của chúng tôi, đây là công nghệ nhiễu xạ laser thế hệ tiếp theo – Litesizer DIF 500: Từ đầu tiên đến tốt nhất.